Transcription of 技術戦略研究センターレ ポート 26 - nedo.go.jp
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TSC T echnology Strategy Center 1 2 3 4 ..21-1 ..21-2 ..42-1 ..92-3 ..18 ..2026 2018 2 2017 1 1 1 NEDO 2017 1-1 1 4 1
出所:nedo技術戦略研究センター作成(2017) 1-1 計測分析機器技術分野の俯瞰 計測分析機器に関わる技術分野は幅・奥行きとも広い 分野であるため、当該分野を俯瞰する上では、図1に示す レイヤー分類が有効であると考えられる。レイヤーは「技術
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