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X-ray diffraction techniques for thin films

2 3 Advantage of X-ray diffraction (XRD) method • Probed depth control by incidence angle • Nondestructive • Measurement under atmosphere pressure

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5LJDNX :HEVLWH <RX FDQ ILQG WKH SURJUDP DEVWUDFWV DQG ELRV DW www.rigaku.com/Webinars/SCX/crystallography-school/ 5LJDNX 2[IRUG )RUXP 'LIIUDFWLRQ

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