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jeol inform jeol daationtum information 走査電子顕微鏡（sem） pc upgradeのご紹介 パーツキャンペーンのお知らせ パーツカタログのご案内 ...

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jeol inform jeol datum informationation セミナー開催のご案内 質量分析計 オーバーホール早割キャンペーンのご案内 「sem/edsセミナー」開催のご報告

  Joel

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solutions news 3 j e o l i n f o r m at i o n jeol datum information 「delta」バージョンアップキャンペーン キャンペーン期間： 2013年12月5日(水)～2014年3月31日(月)

New Technical Information from JEOL パスエネルギーの選択 …

New Technical Information from JEOL 346 344 342 340 338 336 334 332 1.0 Intensity(arb. unit) Binding energy(eV) 346 344 342 340 338 336 334 332 Intensity(arb. unit)

陽極酸化皮膜 - JEOL

私たちの生活を支える陽極酸化皮膜の解析 p 01 陽極酸化皮膜の作製方法は？ p 03 アルマイトの表面はどのような構造ですか？

  Joel

Basic Knowledge For Using The SEM - JEOL

5 •Role of the objective lens The objective lens is used for focusing, and this lens is a very important lens that determines the final diameter of the electron probe. If the performance of the objective lens is not good, an optimally-fine electron probe cannot be produced despite all of the

  Joel

多変量解析および単変量解析を用いたNMRメタボロームデー …

(NMR) NM170021. Figure 1. 二群のブロッコリスプラウトから抽出した極性代謝産物. 1. H-NMRスペクトル。5.0-8.5 ppmの領域は、Y 軸を8倍拡大した。NMR分光計はJNM-ECZ400Sを、検出器はROYALプローブを用い、ASC30オートサンプル チェンジャーを用いて連続測定をおこ …

反射電子（Backscattered electron）

カルロシミュレーションで知ることができます。図1は鉄（Fe）表面に15kVの電子100個が垂直入射し たときのモンテカルロシミュレーションの事例です。 電子入射点 試料：鉄. 図1 . モンテカルロシミュレーション事例 （15kVの電子100個を鉄に垂直 入射した場合）

  15kv

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No. 管理 品名 メーカー 型式 ... - askindex.co.jp

No. 管理№ 品名 メーカー 型式 製造年 仕様 最低価格 在庫場所 21 G20201 スパッタ装置(小型) Sputter パナソニックプロダ クションエンジリア リング