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微小角入射 X 線回折で界面の 構造をみる - JSAC

X .. X m cm 1 .. re 2 l n 1 d ib, d l re, b m ( 1 ).. 2p 4p . b X .. ( 1 ) . CuKa l . 10 8 cm d 10 6, b 10 7. X 1 . 1 . uc 2d .. X .. X .. X .. 1) . X . X . A l X . d .. l ..( 2 ). X d . 2 sin uB.. uB . 2 .. l X n . re cm 3 re 10 13. cm X GIXD X.. Analytical Methods for Surfaces, Interfaces and Boundary Regions . X . Observation of Interface Structure by grazing incidence X Ray Diffraction. 1 . 2 .. X ( a ) X . a i . X X . X a i . a i 2 ( b ) . uC X nm h X . 1) Dk/k 3/ h k . GIXD uC k 2p / l X 1 X .. nm A X . 1 5 nm . 2 nm X .. GIXD X a f . 3 uC . 1 a i X 2) Bragg X rod3) . X .. 2 . a f .. X . 1)4) .. Q Q xy . Q z uxy . 2p Qz (sin a i sin a f ). l 2p Q xy cos2 a i cos2 a f 2 cos a i cos a f cos 2uxy l 4p sin(2uxy/2) ..(. 3). 1 X l 2 X ( a ) . (b ) 3 X 2).. 3. a i a f . Q z .. 2p qz ( n2 cos2 a i n2 cos2 a f ) ( 4 ). l n 1 Q z qz.

Observation of Interface Structure by Grazing Incidence X Ray Diffraction. 分析化学の基礎となる物質の分離過程では,均一相とは 異なり,界面を横切っての選択的物質移動や界面(表面) における吸着など,界面領域の化学的特異性が効果的に働 いています。

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  Incidence, Grazing, Grazing incidence

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1 X .. X m cm 1 .. re 2 l n 1 d ib, d l re, b m ( 1 ).. 2p 4p . b X .. ( 1 ) . CuKa l . 10 8 cm d 10 6, b 10 7. X 1 . 1 . uc 2d .. X .. X .. X .. 1) . X . X . A l X . d .. l ..( 2 ). X d . 2 sin uB.. uB . 2 .. l X n . re cm 3 re 10 13. cm X GIXD X.. Analytical Methods for Surfaces, Interfaces and Boundary Regions . X . Observation of Interface Structure by grazing incidence X Ray Diffraction. 1 . 2 .. X ( a ) X . a i . X X . X a i . a i 2 ( b ) . uC X nm h X . 1) Dk/k 3/ h k . GIXD uC k 2p / l X 1 X .. nm A X . 1 5 nm . 2 nm X .. GIXD X a f . 3 uC . 1 a i X 2) Bragg X rod3) . X .. 2 . a f .. X . 1)4) .. Q Q xy . Q z uxy . 2p Qz (sin a i sin a f ). l 2p Q xy cos2 a i cos2 a f 2 cos a i cos a f cos 2uxy l 4p sin(2uxy/2) ..(. 3). 1 X l 2 X ( a ) . (b ) 3 X 2).. 3. a i a f . Q z .. 2p qz ( n2 cos2 a i n2 cos2 a f ) ( 4 ). l n 1 Q z qz.

2 A i a f . qz 0 .. qz 0 Q z 0 . a i a f . Q xy . 4 X 6). 1) .. X 2 ( a ). X . X qz .. 1 nm 1 nm . GIXD .. 3 . GIXD nm X . 5 X . GIXD . X . 1980 X . 5) GIXD 1 7) GIXD . X 8) 5 .. 2u X . a i V . X . foot print GIXD . X X 2Ux .. Bragg rod . 4 . GIXD . 2u 6) . GIXD . 4 .. 4 .. GIXD P 2 1 .. 6 ( b ) , ( c ) ( d ) . 225 nm, 115 nm 144 nm . P . L. MOCVD Dv X . MBE l Bragg uB Sherrer 11) .. L (Dv cos uB ) ..( 5). X .. GIXD P In 6. InP(001) P 2 1 (e) . In In . 76 s In . 9) 5 / 2 5 / 2 0 . 6 . 10) SPring 8 BL24XU GaAs12) GaN13) . A a i . GIXD .. 6 ( a ) P tertiarybuthylphosphine . TBP . 5 . P 2 1 . 5 /2 5 /2 0 . In trimethylindium TMI . nm 10 .. X 14) GIXD15) . X a i . X . 1) .. 7 Al / Cu a i . 5 X . CuKa l A Al .. 10 nm . Al . 7 Al . a i .. nm Cu . 7 Cu . Al Cu .. GIXD .. 6 10) .. 5. 7 X . 6 .. 16) .. GIXD .. Vollhardt .. 2C11H23 melamine.

3 17) .. 8 GIXD .. 8 . Q xy ( 10 . 01 ) (1 1 ) 8 17).. Q z 2 Z . h . 8 . 6 .. 10 22). 9 17). 11 Au(111) Bi 23). 9 .. Bi Au . 11 2 Bi . GIXD GIXD . 23) . Au . nm 12 V . 18) 12 ( c ) p 3 . 19) GIXD V V 12. (b) 2 2 . V . X Bi Au .. 20) . 21) 2 2 . p 3 . 7 .. X Bi 2 2 . p 3 . Tamura 22) . 10 12 ( a ) . V . 7 mm X V . 32 keV l A GIXD . 20 . Au ( 111 ) . Bi2O3 HClO4 .. 7.. 1) 2002, 623. 2) M. S. Kent, H. Yim, D. Y. Sasaki, S. Sajita, J. Majewski, T. Gog : Langmuir, 20, 2819 (2004). 3) J. Als Nielsen, D. Jacquemain, K. Kjaer, F. Leveiller, M. Lahav, L. Leiserowitz: Phys. Rep., 246, 251 (1994). 5) L. Ortega 1998, 164. 6) C. Zakri, A. Renault, J P. Rieu, M. Vallade, B. Berge, J . F. Legrand, G. Vingault, G. Grubel : Phys. Rev., 55, 14163. (1997). 7) X 30, 165 (1999). 8) X 30, 205 (1999). 9) . 14, 128 (2001). ). 10 S. Fujikawa, T. Kawamura, S.

4 Bhunia, Y. Watanabe, K. Tokushima, Y. Tsusaka, Y. Kagosima, J. Matsui : Jpn. J. Appl. Phys., 44, L144 (2005). 11) B. E. Warren : ``X Ray Diffraction'', Dover (New York), 1990, p. 253 . 12) F. J. Lamelas, P. H. Fuoss, P. Imperatrion, D. W. Kisker, G. B. Stephenson, S. Brennan : Appl. Phys. Lett., 60, 2610. (1992). 13) G. B. Stephenson, J. A. Eastman, C. Thompson, O. Auciel- lo, L. J. Thompson : Appl. Phys. Lett., 74, 3326 (1999). 14) . X 32, 63 (2001). 15 ) . 29, 722 (2005). 16) T. Kunitake, Thin Solid Films, 284/285, 9 (1996). 17) D. Vollhardt, F. Liu, R. Rudert, W. He : J. Phys. Chem., B109, 10849 (2005). 18) P. Fontaine, M. Goldmann, P. Muller, M. C. Faure, O. Konovalov, M. P. Krafft : J. Am. Chem. Soc., 127, 512. (2005). 12 X . 19) Z. Zhang, D. M. Mitrinovic, S. M. Williams, Z. Huang, M. 22). L. Schlossman : J. Chem. Phys.

5 , 110, 7421 (1999). 20) E. Mouri, K. Matsumoto, H. Matsuoka : J. Polymer Sci., B41, 1921 (2003). 8 21) D. Vaknin, M. S. Kelley, B. M. Ocko : J. Chem. Phys., 115, 7697 (2001). X 22) K. Tamura, J. X. Wang, R. R. Adzic, B. M. Ocko : J. Phys. Chem., 108, 1992 (2004). 23) C. Chen, K. D. Kepler, A. A. Gewirth, B. M. Ocko, J. X . Wang : J. Phys. Chem ., 97, 7290 (1993). 24) 2004, 33.. 24) Kazuhiko OMOTE . X 196 8666 .. SPring 8 . 3 4 12 . X . X X .. X .. 8.


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