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半導体デバイスの評価・解析技術 - KOBELCO

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とができる。異物がある場合には,sem-edx(エネル ギ分散x線分光法),異物が微小(1μm以下)な場合 にはaesにて同定することができる。 また,内部構造を明らかにするために,断面方向から semあるいはtemによる観察を要する場合がある。

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