エネルギーを測るⅠ ―半導体検出 ... - jssrr.jp

1 679 5198 1 1 1. E-mail mito . 679 5198 1 1 1. E-mail tanida 1. XAFS X .. SSD (Solid State Detector) 100 keV .. 20. X 30 keV .. 1) X . 2.. X .. DE / E 10 3 X .. X 1) X . X . X 1 . SSD 2) . 103 106 cps X . 1 2 . keV X 1 . 3) . X .. e 1 eV . E X E / e . X X 10 19 E /e(C) . XAFS X . X S /N .. X .. X . 2, 3 1 W Ge: eV, Si: eV, CdTe: 5 6 eV, (W ) He: eV, Ar: eV, Air: eV. July 2008 221. (C) 2008 The Japanese Society for Synchrotron Radiation Research .. PIN .. PIN .. FWHM . ss sn . sc sd . (FWHM)2 ss2 sn2 s2c sd2 (1). 1) . ss . E X E / e . ss . ss F e E (2). e . Fig. 1 (a) Si(Li) SSD (b) Ge SSD 2). F Fano factor2 . 3 . FWHM sn . Fig. 1 . X . X . sc .. sd e Z . sn, sc, Si 20 keV Ge 80. sd keV .. (FWHM)2 a b E (3) Ge K keV 20 .. a b X .. 2. E X .. E .. F 1 . X .. 3 F .. 222 July 2008 ) .. 0 0 . 180 . Eemax E E/(1 2E/mc2) (4).

2 X . 0 Eemax . Fig. 2 . X .. Fig. 2 . (4 ) .. X . X Eemax .. X X . X .. X .. X . X 2 X . X X . E . X Ex X . E Ex . Fig. 2 2E . Ka1, 2, Kb, L . X .. X . K .. X Fig. 2 back scatter- ing X . X X X .. X X . X X E 2Ex .. X . July 2008 223.. 3.. Ge .. Si, Ge, CdTe, HgI2 5 . SEIKO EG&G . Web Ge 5) .. HPGe SSD1,3). SDD6). Ge SSD SDD 1 Mcps 106. cps . Si (Li ) .. p . mm n . mm . SDD KETEK . X p .. SDD Fig. 4 n X . p Fig. 4 . 1010 / cm3 n p .. X HPGe . Fig. 3 5 . 10 mm Ge . X . 4) .. FET4. Fig. 4 6) X .. Fig. 3 . 4 Field e ect transistor 5 . 224 July 2008 ) . SDD .. HPGe SSD .. bias shutdown . Ge . shutdown .. Si Si PIN . CdTe HgI2 . X .. Ge SSD .. K n . mm / . X . Si .. 5.. 4.. SSD AMP . MCA . Fig. 5 . AMP Gain Shaping time . Pole zero . AMP .. 93 Q RG 62 .. Fig. 5 . July 2008 225. Fig. 6 X 11). Shaping time X .. 7) ADC X.

3 DSP 11) Fig. 6 X . 70 keV HPGe SSD 100 mm2, t 10 mm . 75 20 5 . Amp gain SCA .. window 15 keV 30. ADC / DSP keV . DSP .. ADC/DSP .. / . C . 2 over 24 h . X 10 2000 ch 1. X 55Fe, 57Co, 133Ba ch .. Fig. 7 .. X 2 I , I . EGS8) MCNP9) I I . 500 ch 10) X 6 ch I , I .. XAFS X 500 ch, 75 keV .. 6.. X . 226 July 2008 ) . Fig. 8 . Fig. 7 Ni I I . , I I . I I 2 .. 60 .. Fig. 9 K2 MoO4 X 14).. XAFS .. Gain Stabilizer . MCA .. 6. MCA .. IC . AMP X . SCA IC, CRM (ICR), SCA (MCA) . Fig. 8 MCA . SCA Fig. 10 . n m t . X . X m n exp ( nt). Shaping time m n/(1 nt) (5 ). Gain nt 1 m n(1 nt).. AMP ORTEC 15) . CRM Canberra ICR .. 1,12 14) .. Fig. 9 XAFS .. July 2008 227. 50 Ge Si .. SDD . 16) .. 8.. 1.. Ortec .. jsp?mcatID 328. Canberra http; 2.. Fig. 10 X ( I0 ) ( a ) ICR BrukerAXS XFlash series . (b ) SCA 14) .. tICR; msec, tAMP msec.

4 Canberra Ge-SSD GL0055P, Canberra Fast Spectroscopy KETEK Amp 2024 (Shaping time msec), ORTEC SCA 550A, .. ORTEC Counter 974 . jsp?mcatID 328&sbIcatID 459#CatDetail .. 1) GLENN F. KNOLL 3 . ISBN 13 978 4526047206 ) .. ISBN 13 978 452605374, .. nsec 2) msec 3) J. Ebertha, J. Simpsonb: Progress in Particle and Nuclear Physics 60, 283 337 (2008). 1 1 msec 4) Ortec:X-COOLER II; Canberra: Cryo JT . 5) http:// / pub/ segg / hp / prod _ 328&sbIcatID 457&prodID 1321#ProductDetail 6) P. Lechner, et al.: NIM A 458, 281 287 (2001). X t 7) XIA: DXP XMAP, t Canberra: DSA series . 1/2 SPring-8 8) EGS4: 9) MCNP5: 10) C. M. Salgado et al.: Appl. Rad. Isotopes 64, 700 705. (2006). 11) 24, (2008). 12) M. Nomura: J. Synchrotron Rad. 5, 851 853 (1998); idem, KEK Report 98 4 (1998). 13) 7. 14) 15) C. COUSINS: J. Appl. Cryst. 27, 159 163 (1994).

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