MEDICIÓN DE RUGOSIDAD - mitutoyo.com.mx

1 1 Abril 2010 No. 7 MEDICI N DE RUGOSIDAD Los equipos para medici n de RUGOSIDAD lucen como es mostrado en la Figura 1, aunque tambi n existen de tipo port til. Sobre una base se coloca un dispositivo de nivelaci n/sujeci n/alineaci n sobre el que se coloca la pieza a medir, un palpador con una punta c nica con un radio esf rico muy peque o recorre una peque a distancia sobre la superficie a la que se desea medir la RUGOSIDAD el palpador es movido por el dispositivo de alimentaci n que esta montado sobre una columna.

2 Las caracter sticas nominales del equipo de medici n de RUGOSIDAD est n representadas en la Figura 2. Estos equipos pueden transmitir los datos obtenidos a una PC para evaluar los par metros de acuerdo con norma desde tres perfiles diferentes, el primario, el de RUGOSIDAD y el de ondulaci n mediante filtrado. Forma de la punta Una forma t pica para el extremo de un palpador es c nica con una punta esf rica. Radio de la punta = 2 m, 5 m 10 m ngulo de la pendiente del cono: 60 , 90 En medidores de RUGOSIDAD t picos, el ngulo de la pendiente del cono del extremo de la punta es 60 a menos que otra cosa sea especificada. Palpador Ciclo de medici n Dispositivo Pieza Dispositivo de alimentaci n Punta del palpador Base Columna Figura 1 Figura 3 Mitutoyo Mexicana, de Oficinas de servicio: Naucalpan: Monterrey: Aguascalientes: Quer taro: Tijuana: Colaboradores de este n mero Ing.

3 Jos Ram n Zeleny V zquez Ing. Hugo D. Labastida Jim nez Ing. H ctor Ceballos Contreras CONTENIDO Medici n de RUGOSIDAD P gina 1 Verificaci n geom trica de producto sin contacto con equipo ptico y l ser P gina 9 Bolet n T cnicoGu a de referencia L nea de referencia Transductor Amplificador Apariencia Punta del palpador Perfil primario Ciclo de medici n Superfi-cie de la pieza Palpador Evaluaci n de par metros de acuerdo con norma Entrada/Salida Entrada/Salida Convertidor A/D Dispositivo de alimentaci n Medici n del perfil Figura 2 Filtro del perfilSupresi n del acabado nominal Medici n del perfil cuantificado Unidad de transferencia de la se al del eje Z Unidad conductora

4 2 PROXIMOS CURSOS INSTITUTO DE METROLOG A MITUTOYO Metrolog a Dimensional 1 (MD1) 19 - 20 Abril Naucalpan $ 4300 m s IVA21 22 Junio Naucalpan Metrolog a Dimensional 2 (MD2) 21 22 - 23 Abril Naucalpan $ 6200 m s IVA23 24 25 Junio Naucalpan 04, 05 y 06 Mayo Tijuana Calibraci n de Instrumentos (CIVGP) 26 27 28 Abril Naucalpan $ 6600 m s IVA Control Estad stico del Proceso (CEP) 29 y 30 Abril Naucalpan $ 4300 m s IVA Tolerancias Geom tricas Norma ASME 03 04 05 Mayo Naucalpan $ 7500 m s IVA 23 24 25 Junio Monterrey Especificaci n y Verificaci n Geom trica de Producto 07 de Mayo Naucalpan $ 5100 m s IVAI ncertidumbre en Metrolog a Dimensional 17 18 19 Mayo Naucalpan $ 6200 m s IVA 28 29 30 Abril Monterrey An lisis de Sistemas de Medici n (MSA)

5 20 21 de Mayo Naucalpan $ 4400 m s IVA27 28 Mayo Monterrey Aplicaci n de ISO 17025 en Laboratorios de Calibraci n 24 25 -26 Mayo Naucalpan $ 6200 m s IVA Verificaci n Geom trica de Producto con CMM 26 Mayo Naucalpan $ 2100 m s IVA Medici n de Acabado Superficial para Verificaci n Geom trica de Producto 27 Mayo Naucalpan $ 2100 m s IVA Equipo ptico y l ser para Verificaci n Geom trica de Producto sin contacto 28 Mayo Naucalpan $ 2100 m s IVA Cualquiera de los cursos anteriores en sus instalaciones Fechas de com n acuerdo Informes e inscripciones: Tel: (0155) 5312 5612 Radio de curvatura nominal de la punta del palpador m Fuerza de medici n est tica en la posici n intermedia de la punta mN Tolerancia de la proporci n de las variaciones de la fuerza de medici n est tica mN/ m 2 5 10 ( )Nota 1 Definici n: Perfil que resulta de la intersecci n de la superficie real y un plano rectangular a ella Definici n: Lugar geom trico del centro de la punta del palpador que traza la superficie de la pieza Definici n.

6 Datos obtenidos cuantificando el perfil medido Perfil de la superficie sobre la superficie real Medici n Perfil medido Conversi n A/D Perfil cuantificado Suprime geometr a irrelevante de la superficie tal como inclinaci n de un elemento plano y curvatura de un elemento cil ndrico usando el m todo de m nimos cuadrados Filtro paso bajo con valor de cutoff s Perfil primario Par metros del perfil primario Filtro paso alto con valor de cutoff c Filtro paso banda que pasa longitudes de onda entre los valores de cutoff c y f Perfil de RUGOSIDAD Par metros del perfil de RUGOSIDAD Perfil de ondulaci n Par metros del perfil de ondulaci n Fuerza de medici n est tica Fuerza de medici n en la posici n media de un palpador: mN Proporci n de variaci n de la fuerza: 0 N/m Valor caracter stico est ndar: Fuerza de medici n est tica en la posici n media de un palpador Flujo del procesamiento de datos Caracterizaci n metrol gica de filtros de fase corregida (ISO 11562-1996) Un filtro de perfil es un filtro de fase corregida sin retraso de fase (causa de distorsi n del perfil dependiente de la longitud de onda.)

7 La funci n peso de un filtro de fase corregida muestra una distribuci n normal (Gaussiana) en la cual la amplitud de transmisi n es 50% de la longitud de onda cutoff. Nota 1 El valor m ximo de la fuerza de medici n est tica en la posici n promedio de un palpador tiene que ser mN para un palpador con estructura especial incluyendo una punta reemplazable. 3 c mm s mm c/ s rtip m ximo m Longitud de muestreo m xima mm 30 2 100 2 300 2 Nota 1 8 300 5 Nota 2 8 25 300 10 Nota 2 5 Nota 1.

8 Para una superficie con Ra> m Rz>3 m un error significativo usualmente no ocurrir en una medici n a n si rtip = 5 m Nota 2: Si un valor de cutoff s es m u 8 m, atenuaci n de la se al debida al efecto de filtrado mec nico de una punta con el radio recomendado aparece fuera del perfil de RUGOSIDAD paso banda. Por lo tanto un peque o error en el radio o forma de la punta no afecta los valores del par metro calculado desde mediciones si una proporci n de cutoff especifica es requerida, la proporci n debe ser definida NOMBRE DEL CURSO M3SC Naucalpan M3SC Monterrey M3SC Tijuana COSTO GEOPAK-WIN V Abril 12, 13 y 14 Abril 19, 20 y 21 Abril 26, 27 y 28 $ m s IVA SCANPAK Abril 15 Abril 22 Abril 29 $ m s IVA CMM SOFTWARE CAT100 PS Abril 16 Abril 23 Abril 30 $ m s IVA QVPAK V Mayo 03, 04 y 05 Mayo 10, 11 y 12 Mayo 17.

9 18 y 19 $ m s IVA VISION SOFTWARE QSPAK V Mayo 06 y 07 Mayo 13 y 14 Mayo 20 y 21 $ m s IVA FORMPAK-1000 Junio 07 y 08 Junio 14 y 15 $ m s IVA ROUNDPAK V Junio 09 y 10 Junio 16 y 17 $ m s IVA FORM SOFTWARE SURFPAK Junio 11 Junio 18 $ m s IVA Perfil primario Perfil obtenido desde el perfil medido aplicando un filtro paso bajo con valor de cutoff s Perfil de ondulaci nPerfil obtenido aplicando un filtro paso banda al perfil primario para remover las longitudes de onda m s largas arriba de f y las longitudes de onda debajo de c. Mayor altura del perfil de picos Zp dentro de una longitud de muestreo Relaci n entre el valor del cutoff y el radio de la punta del palpador La siguiente tabla lista la relaci n entre el perfil de RUGOSIDAD cutoff valor c, radio de punta del palpador y proporci n de cutoff c/ s.

10 Perfil de rugosidadPerfil obtenido desde el perfil medido aplicando un filtro De paso bajo con un valor de cutoff s. Definici n de par metros (pico y valle) Par metros de amplitud (pico y valle) Altura m xima de picos del perfil primario Pp Altura m xima de picos del perfil de RUGOSIDAD Rp Altura m xima del perfil de ondulaci n WpLongitud de muestreo Rp M xima profundidad de valles del perfil primario Pv M xima profundidad de valles del perfil de RUGOSIDAD Rv M xima profundidad de valles perfil de ondulaci n WvMayor profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de muestreo Rv Perfiles de la superficie ISO 4287:1997 (JIS B0601)Longitudes de onda Perfil de RUGOSIDAD Perfil de ondulaci s c fAmplitud de transmisi n % 100 50 Perfil primario 4 ==miiZtmWcRcPc11,,dxxZlWaRaPal =0)(1,, =ldxxZlWqRqPq02)(1,, Altura m xima del perfil primario Pz Altura m xima del perfil de RUGOSIDAD Rz Altura m xima del perfil de ondulaci n Wz Suma de la altura del pico m s alto y la mayor profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de muestreo En JIS antigua e ISO 4287-1.